Rostislav Daniel
Publikationen
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The origin of stresses in magnetron-sputtered thin films with zone T structures
Daniel, R., Martinschitz, K., Keckes, J. & Mitterer, C., 2010, in: Acta materialia. 58, S. 2621-2633Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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The peculiarity of the metalceramic interface
Zhang, Z., Long, Y., Cazottes, S., Daniel, R., Mitterer, C. & Dehm, G., 2015, in: Scientific reports (London : Nature Publishing Group). S. 1-12Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Thermal Decomposition of Epitaxial Al-Cr-N Hard Coatings: Crystallography and Mechanical State of Individual Phases
Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2010, Proceedings 37th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films. S. 63-63Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Thermally-induced formation of hexagonal AlN in AlCrN hard coatings on sapphire: Orientation relationships and residual stresses
Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2010, in: Surface & coatings technology. 205, S. 1320-1323Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Thermally treated hard coatings characterized by XRD coupled with four-point bending
Steffenelli, M., Riedl, A., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Thermal stability of magnetron sputtered Zr–Si–N films
Daniel, R., Musil, J., Zeman, P. & Mitterer, C., 2006, in: Surface & coatings technology. 201, S. 3368-3376Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Thermal Stability of Sputtered W-Si-N Coatings
Fadenberger, K., Rebholz, C., Baker, M. A., Daniel, R., Musil, J., Mayrhofer, P. H. & Mitterer, C., 2007, 34 th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films. S. 36-36Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Transmission electron microscopy characterization of CrN films on MgO(001)
Harzer, T. P., Daniel, R., Mitterer, C., Dehm, G. & Zhang, Z. L., 2013, in: Thin solid films. 545, S. 154-160 7 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Using pulsed and modulated photothermal radiometry to measure the thermal conductivity of thin films
Kusiak, A., Martan, J., Battaglia, J.-L. & Daniel, R., 2013, in: Thermochimica Acta. 556, S. 1-5Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray analysis of residual stress gradients in TiN coatings by a Laplace space approach and cross-sectional nanodiffraction: a critical comparison
Steffenelli, M., Todt, J., Riedl, A., Ecker, W., Müller, T., Daniel, R., Burghammer, M. & Keckes, J., 2013, in: Journal of applied crystallography. 46, S. 1-8Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
