Rostislav Daniel
Publikationen
- 2010
- Veröffentlicht
Structural characterization of a Cu/MgO(001) interface using CS-corrected HRTEM
Cazottes, S., Zhang, Z., Daniel, R., Chawla, J. S., Gall, D. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films. 519, S. 1662-1667Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
The effect of pulsed biasing on the microstructure and mechanical properties of sputtered TiB2 coatings
Grasser, S., Daniel, R. & Mitterer, C., 2010, Proceedings 12th International Conference on Plasma Surface Engineering. S. 389-389Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
- Veröffentlicht
The effect of pulsed biasing on the microstructure and mechanical properties of sputtered TiB2 coatings
Grasser, S., Daniel, R. & Mitterer, C., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
The origin of stresses in magnetron-sputtered thin films with zone T structures
Daniel, R., Martinschitz, K., Keckes, J. & Mitterer, C., 2010, in: Acta materialia. 58, S. 2621-2633Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Thermal Decomposition of Epitaxial Al-Cr-N Hard Coatings: Crystallography and Mechanical State of Individual Phases
Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2010, Proceedings 37th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films. S. 63-63Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
- Veröffentlicht
Thermally-induced formation of hexagonal AlN in AlCrN hard coatings on sapphire: Orientation relationships and residual stresses
Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2010, in: Surface & coatings technology. 205, S. 1320-1323Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
X-ray diffraction analysis of three-dimensional residual stress fields reveals origins of thermal fatigue in uncoated and coated steel
Kirchlechner, C., Martinschitz, K. J., Daniel, R., Mitterer, C., Donges, J., Rothkirch, A., Klaus, M., Genzel, C. & Keckes, J., 2010, in: Scripta materialia. 62, S. 774-777Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2011
- Veröffentlicht
Advanced characterisation of the Cu-MgO interface structure by Cs-corrected high-resolution transmission electron microscopy
Zhang, Z., Daniel, R., Dehm, G. & Mitterer, C., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Atomic and electronic characterization on the CrN/Cr/Si interfaces using CS-corrected HRTEM
Zhang, Z., Daniel, R. & Mitterer, C., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Atomic and electronic structures of a transition layer at the CrN/Cr interface
Zhang, Z., Daniel, R. & Mitterer, C., 2011, in: Journal of applied physics. 110, S. 043524-1-043524-4Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
