Rostislav Daniel
Publikationen
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Antibacterial Silicon Oxide Thin Films Doped with Zinc and Copper Grown by Atmospheric Pressure Plasma Chemical Vapor Deposition
Jäger, E., Schmidt, J., Pfuch, A., Spange, S., Beier, O., Jäger, N., Jantschner, O., Daniel, R. & Mitterer, C., Feb. 2019, in: Nanomaterials. 9.2019, 2, S. 1-14 14 S., 255.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Microstructural evolution and thermal stability of AlCr(Si)N hard coatings revealed by in-situ high-temperature high-energy grazing incidence transmission X-ray diffraction
Jäger, N., Meindlhumer, M., Spor, S., Hruby, H., Julin, J., Stark, A., Nahif, F., Keckes, J., Mitterer, C. & Daniel, R., 18 Jan. 2020, in: Acta materialia. 186.2020, March, S. 545-554 10 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Impact of Si on the high-temperature oxidation of AlCr(Si)N coatings
Jäger, N., Meindlhumer, M., Zitek, M., Spor, S., Hruby, H., Nahif, F., Julin, J., Rosenthal, M., Keckes, J., Mitterer, C. & Daniel, R., 20 Feb. 2022, in: JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE & TECHNOLOGY. 100.2022, 20 February, S. 91-100 10 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray nanodiffraction reveals strain and microstructure evolution in nanocrystalline thin films
Keckes, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Maier, G. A., Ecker, W., Vila-Comamala, J., David, C., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2012, in: Scripta materialia. 67, S. 748-751Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Self-organized periodic soft-hard nanolamellae in polycrystalline TiAlN thin films
Keckes, J., Daniel, R., Mitterer, C., Matko, I., Sartory, B., Köpf, A., Weißenbacher, R. & Pitonak, R., 2013, in: Thin solid films. 545, S. 29-32Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Novel TiAlN nanostructured CVD coatings with superior oxidation resistance
Keckes, J., Todt, J., Daniel, R., Mitterer, C., Köpf, A., Weißenbacher, R. & Pitonak, R., 2013.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Nano-Beam X-ray Diffraction Reveals Structural and Mechanical Gradients in Nano-Crystalline Thin Films
Keckes, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Maier, G., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Nano-beam-x-ray diffraction reveals strain, composition, texture and crystal size gradients across nano-crystalline thin films
Keckes, J., Daniel, R., Bartosik, M., Mitterer, C., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2011, Proceeding of International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films. S. 55-55Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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High-temperature residual stresses in thin films characterized by x-ray diffraction substrate curvature method
Keckes, J., Eiper, E., Martinschitz, K. J., Köstenbauer, H., Daniel, R. & Mitterer, C., 2007, in: Review of scientific instruments. 78, S. 036103-01-036103-03Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Software Package to evaluate two-dimensional X-ray nanodiffraction data from thin films
Keckes, J., Stefenelli, M., Todt, J., Mitterer, C., Daniel, R. & Keckes, J., 2015.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
