Karl Christian Teichert
71 - 80 von 507Seitengröße: 10
Publikationen
- Veröffentlicht
Characterization of piezo ceramics on the nano scale by Conducting AFM
Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of piezo ceramics on the nano scale by Conducting AFM
Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of piezo ceramics on the nanoscale by Conducting AFM
Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of semi-conducting nanorods by AFM
Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of semiconducting nanorods by AFM and conducting AFM
Andreev, A., Hou, Y. & Teichert, C., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of silicon gate oxides by conducting atomic-force microscopy
Kremmer, S., Teichert, C., Pischler, E., Gold, H., Kuchar, F. & Schatzmayr, M., 2002, in: Surface and interface analysis. 33, S. 168-172Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic force microscopy
Kratzer, M., Beinik, I., Teichert, C., Wang, L., Brauer, G. & Anwand, W., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic microscopy
Teichert, C., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of Step-Edge Barriers in Organic Thin-Film Growth
Hlawacek, G., Puschnig, P., Frank, P., Winkler, A., Draxl, C. & Teichert, C., 2008, in: Science. 321, S. 108-111Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of vertical arrays of ZnO nanorod by AFM
Hou, Y., Andreev, A., Teichert, C., Brauer, G., Tam, K. H. & Djuricis, A., 2007.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
