Jozef Keckes
Publikationen
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Residual stresses and thermal fatigue in CrN hard coatings characterized by high-temperature synchrotron X-ray diffraction
Kirchlechner, C., Martinschitz, K. J., Daniel, R., Klaus, M., Genzel, C., Mitterer, C. & Keckes, J., 2010, in: Thin solid films. 518, 8, S. 2090-2096Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Residual stresses in thermally cycled Cr-crN coatings on Si(100) and on shot peened steel
Martinschitz, K. J., Kirchlechner, C., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2007.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Residual stresses in thermally cycled Cr-CrN coatings on Si (100) and on shot peened steel
Martinschitz, K. J., Kirchlechner, C., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2007.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Residual stresses in thermally cycled Cr-CrN coatings on Si (100) and on steel
Martinschitz, K., Kirchlechner, C., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2007.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Residual stresses in thermally cycled Cr-CrN coatings on Si (100) and on steel
Martinschitz, K. J., Kirchlechner, C., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2008.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Residual stresses in thermally cycled CrN coatings on steel
Kirchlechner, C., Martinschitz, K. J., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2008, in: Thin solid films. 517, S. 1167-1171Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Residual stress gradients in alpha-Al2O3 hard coatings determined by pencil-beam X-ray nanodiffraction: The influence of blasting media
Tkadletz, M., Keckes, J., Schalk, N., Krajinovic, I., Burghammer, M., Czettl, C. & Mitterer, C., 2015, in: Surface & coatings technology. 262, S. 134-140 7 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.
Resolving alternating stress gradients and dislocation densities across AlxGa1-xN multilayer structures on Si(111)
Reisinger, M., Tomberger, M., Zechner, J., Daumiller, I., Sartory, B., Ecker, W., Keckes, J. & Lechner, R. T., 16 Okt. 2017, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Applied physics letters. 111.2017, 16, S. 162103 4 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Resolving depth evolution of microstructure and hardness in sputtered CrN film
Zeilinger, A., Daniel, R., Schöberl, T., Stefenelli, M., Sartory, B., Keckes, J. & Mitterer, C., 2015, in: Thin solid films. 581.2015, April, S. 75-79Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Resolving the fundamentals of the J-integral concept by multi-method in situ nanoscale stress-strain mapping
Meindlhumer, M., Alfreider, M., Sheshi, N., Hohenwarter, A., Todt, J., Rosenthal, M., Burghammer, M., Salvati, E., Keckes, J. & Kiener, D., 22 Feb. 2025, in: Communications materials. 2025, 6, 15 S., 35.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
