Igor Beinik
(Ehemalig)
Publikationen
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Testmessungen mittels Leitfähigkeitsrasterkraftmikroskopie an 30 µm x 1600µm
Beinik, I. & Teichert, C., 2011Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Surface planarization and masked ion-beam structuring of YBa2Cu3O7 thin films
Pedarnig, J. D., Siraj, K., Bodea, M. A., Puica, I., Lang, W., Kolarova, R., Bauer, P., Haselgrübler, K., Hasenfuss, C., Beinik, I. & Teichert, C., 2010, in: Thin solid films. 518, S. 7075-7080Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Spectroscopy of Defects in Epitaxially Grown Para-sexiphenyl Nanostructures
Kadashchuk, A., Skryshevski, Y., Beinik, I., Teichert, C., Hernandez-Sosa, G., Sitter, H., Andreev, A., Frank, P. & Winkler, A., 2009, EMRS Symposium O. S. 121-125Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Spectroscopy of defects in epitaxially grown para-sexiphenyl nanostructures
Kadashchuk, A., Schols, S., Skryshevski, Y., Beinik, I., Teichert, C., Hernandez-Sosa, G., Sitter, H., Andreev, A., Frank, P. & Winkler, A., 2009, Interface Controlled Organic Thin Films. S. 121-125 (Springer proceedings in physics; Band 129).Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Spatially resolved electrical characterization of InAs and InGaAs nanostructures by Conductive-AFM and Kelvin probe microscopz
Tejedor, P., Vázquez, L., Díez-Merino, L., Beinik, I. & Teichert, C., 2008.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Scanning Probe Microscopy-based Characterization of ZnO Nanorods
Teichert, C., Hou, Y., Beinik, I., Chen, Y., Djuricis, A., Anwand, W. & Brauer, G., 2010, Abstract CD IEEE International NanoElectronics Conference (INEC 2010). S. 438-439Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Photoresponse from single upright standing ZnO nanorods explored by photoconductive atomic force microscopy
Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Wachauer, A., Wang, L., Pyriatinsky, Y. P., Brauer, G., Chen, X. Y., Hsu, Y. F. & Djurisic, A., 2013, in: Beilstein journal of nanotechnology . 4, S. 208-217Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Photoresponse from single upright-standing ZnO nanorods explored by photoconductive AFM
Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Piryatinski, Y. P., Brauer, G., Chen, X. Y., Hsu, Y. F., Djurišić, A. B. & Teichert, C., 17 Apr. 2013, in: Beilstein journal of nanotechnology. 4, 1, S. 208-217 10 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Origin of the low-energy emission band in epitaxially grown para-sexiphenyl nanocrystallites
Kadashchuk, A., Schols, S., Heremans, P., Skryshevski, Y., Piryantinski, Y., Beinik, I., Teichert, C., Hernandez-Sosa, G., Sitter, H., Andreev, A., Frank, P. & Winkler, A., 2009, in: Journal of chemical physics (The journal of chemical physics). 130, S. 084901-1-084901-9Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Nanoscale electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge
Beinik, I., Galiana, B., Kratzer, M., Teichert, C., Rey-Stolle, I., Algora, C. & Tejedor, P., 2010, in: Journal of vacuum science & technology / B (JVST). 28, S. C5G5-C5G10Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
