Igor Beinik
(Ehemalig)
Publikationen
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AFM based morphological and electrical characterization of hot wall epitaxy grown 6P/SiO2
Kratzer, M., Klima, S., Beinik, I., Shen, Q., Lugstein, A. & Teichert, C., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Application of conductive AFM technique to measure electrical conductance of tribofilms
Pondicherry, K., Beinik, I., Grün, F., Godor, I. & Teichert, C., 2009, Proceedings of 26th Danubia-Adria Symposium on Advances in Experimental Mechanics. S. 205-206Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Application of conductive AFM technique to measure electrical conductance of tribofilms
Pondicherry, K., Beinik, I., Grün, F., Godor, I. & Teichert, C., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Characterization of antiphase domains on GaAs grown on Ge substrates by conductive atomic force microscopy for photovoltaic applications
Galiana, B., Rey-Stolle, I., Beinik, I., Teichert, C., Algora, C., Molina-Aldareguia, J. M. & Tejedor, P., 2011, in: Solar energy materials and solar cells. 95, S. 1949-1954Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic force microscopy
Kratzer, M., Beinik, I., Teichert, C., Wang, L., Brauer, G. & Anwand, W., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Characterization of ZnO nanostructures: A challenge to positron annihilation spectroscopy and other methods
Brauer, G., Anwand, W., Grambole, D., Beinik, I., Wang, L., Teichert, C., Kuriplach, J., Djurisic, A. & Skorupa, W., 2009, in: Physica status solidi / C. 6, S. 2556-2560Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Combined C-AFM/PFM investigations of ZnO nanorods
Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Brauer, G., Anwand, W., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Complementary electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge: KPFM and C-AFM exploration
Beinik, I., Galiana, B., Kratzer, M., Rey-Stolle, I., Algora, C., Tejedor, P. & Teichert, C., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Conductive AFM investigations of self-patterned InGaAs/GaAs(110) nanostructures
Beinik, I., Teichert, C., Díez-Merino, L. & Tejedor, P., 2008.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Conductive Atomic-Force Microscopy Investigation of Nanostructures in Microelectronics
Teichert, C. & Beinik, I., 2011, Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2. S. 691-721Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
