Igor Beinik
(Ehemalig)
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Publikationen
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Ion beam irradiation of cuprate high-temperature superconductors: Systematic modification of the electrical properties and fabrication of nanopatterns
Lang, W., Marksteiner, M., Bodea, M. A., Siraj, K., Pedarnig, J. D., Kolarova, R., Bauer, P., Hasengrübler, K., Hasenfuss, C., Beinik, I. & Teichert, C., 2012, in: Nuclear instruments & methods in physics research / B Beam interactions with materials and atoms. 272, S. 300-304Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Surface planarization and masked ion-beam structuring of YBa2Cu3O7 thin films
Pedarnig, J. D., Siraj, K., Bodea, M. A., Puica, I., Lang, W., Kolarova, R., Bauer, P., Haselgrübler, K., Hasenfuss, C., Beinik, I. & Teichert, C., 2010, in: Thin solid films. 518, S. 7075-7080Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Application of conductive AFM technique to measure electrical conductance of tribofilms
Pondicherry, K., Beinik, I., Grün, F., Godor, I. & Teichert, C., 2009, Proceedings of 26th Danubia-Adria Symposium on Advances in Experimental Mechanics. S. 205-206Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Application of conductive AFM technique to measure electrical conductance of tribofilms
Pondicherry, K., Beinik, I., Grün, F., Godor, I. & Teichert, C., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Scanning Probe Microscopy-based Characterization of ZnO Nanorods
Teichert, C., Hou, Y., Beinik, I., Chen, Y., Djuricis, A., Anwand, W. & Brauer, G., 2010, Abstract CD IEEE International NanoElectronics Conference (INEC 2010). S. 438-439Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Conductive Atomic-Force Microscopy Investigation of Nanostructures in Microelectronics
Teichert, C. & Beinik, I., 2011, Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2. S. 691-721Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
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Conductive atomic force microscopy study of InAs growth kinetics on vicinal GaAs (110)
Tejedor, P., Díez-Merino, L., Beinik, I. & Teichert, C., 2009, in: Applied physics letters. 95, S. 123103-1-123103-3Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Spatially resolved electrical characterization of InAs and InGaAs nanostructures by Conductive-AFM and Kelvin probe microscopz
Tejedor, P., Vázquez, L., Díez-Merino, L., Beinik, I. & Teichert, C., 2008.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
