Harald Köstenbauer
(Ehemalig)
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Publikationen
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High-temperature residual stresses in thin films characterized by x-ray diffraction substrate curvature method
Keckes, J., Eiper, E., Martinschitz, K. J., Köstenbauer, H., Daniel, R. & Mitterer, C., 2007, in: Review of scientific instruments. 78, S. 036103-01-036103-03Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Galvanic corrosion of molybdenum alloys and oxides in contact with copper for thin film transistors using evans diagrams
Riedl, J., Mori, G., Schmidt, H. & Köstenbauer, H., 2021, in: Digest of technical papers. 52, S2, S. 588-590 3 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzartikel › (peer-reviewed)
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Fundamental investigations on stress engineering of sputtered hard coatings
Köstenbauer, H., 2008, 113 S.Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Dissertation
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Correlation of mechanical damage and electrical behavior of Al/Mo bilayers subjected to bending
Kreiml, P., Rausch, M., Terziyska, V. L., Köstenbauer, H., Winkler, J., Mitterer, C. & Cordill, M. J., 1 Okt. 2019, in: Thin solid films. 687.2019, 1 October, 9 S., 137480.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Annealing of intrinsic stresses in sputtered TiN films: The role of thickness-dependent gradients of point defect density
Köstenbauer, H., Fontalvo, G., Kapp, M., Keckes, J. & Mitterer, C., 2007, in: Surface & coatings technology. 201, S. 4777-4780Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
