Gerhard Dehm
(Ehemalig)
Publikationen
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Fracture and Delamination of Chromium Thin Films on Polymer Substrates
Cordill, M., Taylor, A., Schalko, J. & Dehm, G., 2010, in: Metallurgical and materials transactions. A, Physical metallurgy and materials science . S. 870-875Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Fracture and Delamination of Chromium Thin Films on Polymer Substrates
Cordill, M., Taylor, A., Schalko, J. & Dehm, G., 2009, in: Metallurgical and materials transactions. A, Physical metallurgy and materials science . S. 1-6Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Fokussierte Ionenstrahl-Technik (FIB) in der Mikro- und Nanomechanik
Motz, C., Kiener, D., Schöberl, T., Pippan, R. & Dehm, G., 2005, Handbuch der Nanoanalytik. S. 162-163Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
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FIB damage of Cu and possible consequences for miniaturized mechanical tests
Kiener, D., Motz, C., Rester, M., Jenko, M. & Dehm, G., 2007, in: Materials science and engineering: A, Structural materials: properties, microstructure and processing. 459, S. 262-272Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Experimental studies on epitaxially grown TiN and VN films
Kutschej, K., Rashkova, B., Shen, J., Edwards, D., Mitterer, C. & Dehm, G., 2007, in: Thin solid films. 516, S. 369-373Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Experimental studies on epitaxially grown TiN and VN films
Kutschej, K., Rashkova, B., Shen, J., Mitterer, C. & Dehm, G., 2007.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Expected and unexpected plastic behavior at the micron scale: An in situ μLaue tensile study
Kirchlechner, C., Imrich, P., Grosinger, W., Kapp, M., Keckes, J., Micha, J.-S., Ulrich, O., Thomas, O., Labat, S., Motz, C. & Dehm, G., 2012, in: Acta materialia. 60, S. 1252-1258Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Examples of scanning transmission electron microscopy for microstructural characterization of alloys
Rashkova, B., Thomas, J., Moser, G., Rester, M. & Dehm, G., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Electrical properties and structure of grain boundaries in n-conducting BaTiO3 ceramics
Hou, J., Zhang, Z., Preis, W., Sitte, W. & Dehm, G., 2011, in: Journal of the European Ceramic Society. S. 763-771Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Elastoplastic Buckling as Source of Misinterpretation of Micropillar-Tests
Daum, B., Dehm, G., Clemens, H., Rester, M., Fischer, F. D. & Rammerstorfer, F. G., 2013, in: Acta materialia. 61, S. 4996-5007Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
