Departments und Lehrstühle

Organisation: Departments and Institute

Publikationen

  1. Veröffentlicht

    X-ray Diffraction Computed Nanotomography Applied to Solve the Structure of Hierarchically Phase-Separated Metallic Glass

    Stoica, M., Sarac, B., Spieckermann, F., Wright, J., Gammer, C., Han, J., Gostin, P. F., Eckert, J. & Löffler, J. F., 29 Jan. 2021, in: ACS nano. 15.2021, 2, S. 2386-2398 13 S.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  2. Veröffentlicht

    X-ray diffraction of Pentacene on organic dielectrics

    Moser, A., Flesch, H.-G., Neuhold, A., Edler, M., Grießer, T., Marchl, M., Trimmel, G., Golubkov, A., Haase, A., Smilgies, D.-M., Zojer, E. & Resel, R., 2010.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    X-ray diffraction study of anthracene under high pressure

    Oehzelt, M., Resel, R., Hummer, K., Puschnig, P., Draxl, C. & Nakayama, A., 2003, in: Synthetic Metals. 137, S. 913-914

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    X-ray elastic constants determined by the combination of the sin² psi and substrate-curvature methods

    Eiper, E., Martinschitz, K.-J., Gerlach, J. W., Lackner, J. M., Zizak, I., Darowski, N. & Keckes, J., 2005, in: Zeitschrift für Metallkunde : international journal of materials research and advanced techniques. 96, S. 1069-1073

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht

    X-ray fluorescence raw intensities vs. concentration data for multivariate classification of hungarian coal

    Rachetti, A., Wegscheider, W. & Borszéki, J., 1986, in: Analytica chimica acta. 191, C, S. 219-226 8 S.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht
  7. Veröffentlicht

    X-ray induced cationic curing of epoxy-bonded composites

    Puchleitner, R., Rieß, G. & Kern, W., 2017, in: European polymer journal. 91.2017, June, S. 31-45 15 S.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  8. Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.

    X-ray nanodiffraction analysis of residual stresses in polysilicon electrodes of vertical power transistors

    Karner, S., Blank, O., Rösch, M., Burghammer, M., Zalesak, J., Keckes, J. & Todt, J., 20 Juni 2022, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Materialia. 24.2022, August, 6 S., 101484.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  9. Veröffentlicht

    X-ray nanodiffraction analysis of stress oscillations in a W thin film on through-silicon via

    Todt, J., Hammer, H., Sartory, B., Burghammer, M., Kraft, J., Daniel, R., Keckes, J. & Defregger, S., 2016, in: Journal of applied crystallography. 49, S. 182-187 6 S.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    X-ray nanodiffraction reveals strain and microstructure evolution in nanocrystalline thin films

    Keckes, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Maier, G. A., Ecker, W., Vila-Comamala, J., David, C., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2012, in: Scripta materialia. 67, S. 748-751

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)