Department Physik, Mechanik und Elektrotechnik
Organisation: Departments and Institute
Publikationen
- 2009
- Veröffentlicht
Characterization of ZnO nanostructures: A challenge to positron annihilation spectroscopy and other methods
Teichert, C., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic force microscopy
Kratzer, M., Beinik, I., Teichert, C., Wang, L., Brauer, G. & Anwand, W., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic microscopy
Teichert, C., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Charcterization of kraft pulp fiber surfaces using atomic force microscopy
Schmied, F., Teichert, C., Kappel, L., Hirn, U. & Schennach, R., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Circuit type Simulatione of the Quantum Electron Transport
Oswald, J., 2009Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Coherent Single Electron Manipulation in a Double Quantum Dot Specially Designed
Brunner, R., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Cold and Warm Forming of Polycrystals: The Effect of Crystal Plasticity
Rehrl, C., Kleber, S., Antretter, T. & Pippan, R., 2009,Macro- to Nano-scale Inelastic Behavior of Materials: Plasticity, Fatigue, & Fracture
. S. 319-321Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Comparative AFM and SEM investigations on kraft pulp fiber surfaces
Schmied, F., Teichert, C., Kappel, L., Hirn, U., Schennach, R. & Schröttner, H., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Conductive Atomic Force Microscopy investigations of organic thin films
Pavitschitz, A., Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Schwabegger, G., Sitter, H., Simbrunner, C., Grießer, T. & Kern, W., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Conductive atomic force microscopy study of InAs growth kinetics on vicinal GaAs (110)
Tejedor, P., Díez-Merino, L., Beinik, I. & Teichert, C., 2009, in: Applied physics letters. 95, S. 123103-1-123103-3Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
