Department Physik, Mechanik und Elektrotechnik

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Publikationen

  1. Veröffentlicht

    Characterization of stainless steels by means of high temperature X-­ray diffraction

    Gamsjäger, E., Wiessner, M. & Angerer, P., 30 Apr. 2015, Stainless Steel Conference 2015-Proceedings.

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband

  2. Veröffentlicht

    Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic microscopy

    Teichert, C., 2009.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic force microscopy

    Kratzer, M., Beinik, I., Teichert, C., Wang, L., Brauer, G. & Anwand, W., 2009.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    Characterization of silicon gate oxides by conducting atomic-force microscopy

    Kremmer, S., Teichert, C., Pischler, E., Gold, H., Kuchar, F. & Schatzmayr, M., 2002, in: Surface and interface analysis. 33, S. 168-172

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht

    Characterization of semiconducting nanorods by AFM and conducting AFM

    Andreev, A., Hou, Y. & Teichert, C., 2006.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht

    Characterization of semi-conducting nanorods by AFM

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    Characterization of piezo ceramics on the nanoscale by Conducting AFM

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    Characterization of piezo ceramics on the nano scale by Conducting AFM

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  9. Veröffentlicht

    Characterization of piezo ceramics on the nano scale by Conducting AFM

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    Characterization of MBE grown HfO2 films on Ge(001)

    Teichert, C., 2005.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

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