Department Werkstoffwissenschaft
Organisation: Departments and Institute
Publikationen
- 2010
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Stacking-fault energies for Cu, Ag, and Au from density-functional theory
Li, H., Romaner, L., Pippan, R. & Ambrosch-Draxl, C., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Strength and fracture analysis of silicon chips to be embedded into printed circuit boards
Deluca, M., Bermejo, R., Pletz, M. & Supancic, P., 2010, 18th European Conference on Fracture: Fracture of Materials and Structures from Micro to Macro Scale.Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Strength and fracture characteristics of metal-piezoceramic multilayers for actuator application
Grünbichler, H., Deluca, M., Bermejo Moratinos, R., Auer, C. & Danzer, R., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Stress, Sheet Resistance, and Microstructure Evolution of Electroplated Cu Films During Self-Annealing
Huang, R., Robl, W., Ceric, H., Detzel, T. & Dehm, G., 2010, in: IEEE transactions on device and materials reliability. 10, 1, S. 47-54Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structural Development and Interfacial Engineering of Hard Coatings by HIPIMS (High Power Impulse Magnetron Sputtering)
Paulitsch, J., 2010Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Dissertation
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Structural characterization of a Cu/MgO(001) interface using C S-corrected HRTEM
Cazottes, S., Zhang, Z. L., Daniel, R., Chawla, J. S., Gall, D. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structural characterization of a Cu/MgO(001) interface using CS-corrected HRTEM
Cazottes, S., Zhang, Z., Daniel, R., Chawla, J. S., Gall, D. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films. 519, S. 1662-1667Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structure and properties of arc-evaporated Me1-xAlxN (Me=Nb, Zr,Hf) hard coatings
Franz, R., Lechthaler, M., Polzer, C. & Mitterer, C., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Structure and properties of high power impulse magnetron sputtering and DC magnetron sputtering CrN and TiN films deposited in an industrial scale unit
Paulitsch, J., Schenkel, M., Zufraß, T., Mayrhofer, P. H. & Münz, W-D., 2010, in: Thin solid films. 518, S. 5558-5564Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structure and stability of phases within the NbN-AIN system
Holec, D., Franz, R., Mayrhofer, P. H. & Mitterer, C., 2010, in: Journal of physics / D, Applied physics. 43, S. 145403-145411Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)