Lehrstuhl für Materialphysik (430)
Organisation: Lehrstuhl
Publikationen
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Zehn hochdotierte EU-Förderpreise
Kiener, D., 28 Nov. 2017Publikationen: Elektronische/multimediale Veröffentlichungen › Webpublikation oder Website › Transfer
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Young's Modulus and Poisson's Ratio Characterization of Tungsten Thin Films via Laser Ultrasound
Grünwald, E., Nuster, R., Treml, R., Kiener, D., Paltauf, G. & Brunner, R., 2015, in: Materials Today: Proceedings. 2, S. 4289-4294Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Yield and plastic flow of soft metals in small volumes loaded in tension and flexure
Dunstan, D. J., Gallé, J. U., Hou, X. D., P'ng, K. M. Y., Bushby, A. J., Yang, B. & Kiener, D., 2012, in: Philosophical magazine. 92, S. 3199-3215Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray nanodiffraction reveals stress distribution across an indented multilayered CrN-Cr thin film
Steffenelli, M., Daniel, R., Ecker, W., Kiener, D., Todt, J., Zeilinger, A., Mitterer, C., Burghammer, M. & Keckes, J., 2015, in: Acta materialia. 85, S. 24-31Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray nanodiffraction reveals strain and microstructure evolution in nanocrystalline thin films
Keckes, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Maier, G. A., Ecker, W., Vila-Comamala, J., David, C., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2012, in: Scripta materialia. 67, S. 748-751Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray nanodiffraction analysis of stress oscillations in a W thin film on through-silicon via
Todt, J., Hammer, H., Sartory, B., Burghammer, M., Kraft, J., Daniel, R., Keckes, J. & Defregger, S., 2016, in: Journal of applied crystallography. 49, S. 182-187 6 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.
X-ray nanodiffraction analysis of residual stresses in polysilicon electrodes of vertical power transistors
Karner, S., Blank, O., Rösch, M., Burghammer, M., Zalesak, J., Keckes, J. & Todt, J., 20 Juni 2022, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Materialia. 24.2022, August, 6 S., 101484.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray elastic constants determined by the combination of the sin² psi and substrate-curvature methods
Eiper, E., Martinschitz, K.-J., Gerlach, J. W., Lackner, J. M., Zizak, I., Darowski, N. & Keckes, J., 2005, in: Zeitschrift für Metallkunde : international journal of materials research and advanced techniques. 96, S. 1069-1073Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray Diffraction Computed Nanotomography Applied to Solve the Structure of Hierarchically Phase-Separated Metallic Glass
Stoica, M., Sarac, B., Spieckermann, F., Wright, J., Gammer, C., Han, J., Gostin, P. F., Eckert, J. & Löffler, J. F., 29 Jan. 2021, in: ACS nano. 15.2021, 2, S. 2386-2398 13 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray diffraction analysis of three-dimensional residual stress fields reveals origins of thermal fatigue in uncoated and coated steel
Kirchlechner, C., Martinschitz, K. J., Daniel, R., Mitterer, C., Donges, J., Rothkirch, A., Klaus, M., Genzel, C. & Keckes, J., 2010, in: Scripta materialia. 62, S. 774-777Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
