Lehrstuhl für Materialphysik (430)
Organisation: Lehrstuhl
Publikationen
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A direct method of determining complex depth profiles of residual stresses in thin films on a nanoscale
Massl, S., Keckes, J. & Pippan, R., 2007, in: Acta materialia. 55, S. 4835-4844Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Advanced beta-solidiying titanium aluminides – Development status and perspectives
Clemens, H., Schloffer, M., Schwaighofer, E., Werner, R., Gaitzenauer, A., Rashkova, B., Schmölzer, T., Pippan, R. & Mayer, S., 2013, Materials Research Society symposium proceedings Volume 1516. Materials Research Society : MRS, S. 3-16Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Advanced characterisation of the Cu-MgO interface structure by Cs-corrected high-resolution transmission electron microscopy
Zhang, Z., Daniel, R., Dehm, G. & Mitterer, C., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Advanced characterisation of thermo-mechanical fatigue mechanisms of different copper film systems for wafer metallizations
Bigl, S., Wurster, S., Cordill, M. & Kiener, D., 1 Aug. 2016, in: Thin solid films. 612.2016, 1 August, S. 153-164 12 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Advanced characterization methods for wear resistant hard coatings: A review on recent progress
Tkadletz, M., Schalk, N., Daniel, R., Keckes, J., Czettl, C. & Mitterer, C., 2016, in: Surface & coatings technology. 285, S. 31-46 16 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Advanced Characterization of thermo-mechanical fatigue mechanisms for semiconductor metallizations
Bigl, S., Wurster, S., Schöberl, T., Cordill, M. & Kiener, D., 2016.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)
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Advanced cross-sectional characterization of hard coatings
Tkadletz, M., Mitterer, C., Keckes, J., Rebelo De Figueiredo, M., Hosemann, P., Burghammer, M., Sartory, B. & Czettl, C., 2013.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Advanced Diffraction Techniques for Microstructure and Stress Characterisation at Multiple Scales
Stefenelli, M., 2014Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Dissertation
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Advanced nanomechanics in the TEM: effects of thermal annealing on FIB prepared Cu samples
Kiener, D., Zhang, Z., Sturm, S., Cazottes, S., Imrich, P. J., Kirchlechner, C. & Dehm, G., 2012, in: Philosophical magazine. 92, S. 3269-3289Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Advances in multi-scale mechanical characterization
Mangalampalli, K., Ghosh, P., Volpi, F., Kiener, D. & Useinov, A., 8 Dez. 2022, in: Journal of applied physics. 132:2022, 22, 4 S., 220401.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Leitartikel › (peer-reviewed)
