Lehrstuhl für Materialphysik (430)
Organisation: Lehrstuhl
Publikationen
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Nano-versus macro-hardness of liquid phase sintered SiC
Balog, M., Sagalík, P., Hnatko, M., Lencés, Z., Monteverde, F., Keckes, J. & Huang, J.-L., 2005, in: Journal of the European Ceramic Society. 25, S. 529-534Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Nano-Indentation of SiC and Si3N4/SiC ceramic materials
Balog, M., Sajgalík, P., Lencés, Z., Hnatko, M., Keckes, J., Huang, J. L., Janega, J. & Horvathova, R., 2005, in: Materials Science Forum . 290, S. 272-275Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Hardness Limits of SiC and Si3N4 Ceramic Materials
Balog, M., Sajgalík, P., Lencés, Z., Hnatko, M. & Keckes, J., 2005, Key engineering materials. Band 59. S. 247-251 (Key engineering materials).Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
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Trends in the Development of New Mg Alloys
Bamberger, M. & Dehm, G., 2008, in: Annual review of materials research. 38, S. 505-533Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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In-situ observation of stress-induced stochastic twin boundary motion in off stoichiometric NiMnGa single crystals
Barabash, R., Kirchlechner, C., Robach, O., Ulrich, O., Micha, J.-S., Sozinov, A. & Barabash, O., 2013, in: Applied physics letters. 103, S. 219091-219095Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Nano-Beam X-ray Diffraction as a Tool to Characterize Gradients of Microstructure and Residual Stress in Nanocrystalline Hard Coatings
Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Schoeder, S., Burghammer, M. & Keckes, J., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Thermal expansion and elasticity of metastable cubic B1-AlN
Bartosik, M., Holec, D., Todt, M., Todt, J., Rammerstorfer, F. G. & Mayrhofer, P. H., 2014.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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In Situ High Temperature X-Ray Diffraction Reveals Residual Stress Depth-Profiles in Blasted TiN Hard Coatings
Bartosik, M., Pitonak, R. & Keckes, J., 2011, in: Advanced engineering materials. S. 705-711Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Cross-sectional X-ray nanobeam diffraction analysis of a compositionally graded CrNx thin film
Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Matko, I., Burghammer, M., Mayrhofer, P. H. & Keckes, J., 2013, in: Thin solid films. 542, S. 1-4Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Thermally-induced formation of hexagonal AlN in AlCrN hard coatings on sapphire: Orientation relationships and residual stresses
Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2010, in: Surface & coatings technology. 205, S. 1320-1323Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
