Thin solid films, 0040-6090
Fachzeitschrift: Zeitschrift
| ISSNs | 0040-6090 |
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Publikationen
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Structural characterization of a Cu/MgO(001) interface using C S-corrected HRTEM
Cazottes, S., Zhang, Z. L., Daniel, R., Chawla, J. S., Gall, D. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structural characterization of a Cu/MgO(001) interface using CS-corrected HRTEM
Cazottes, S., Zhang, Z., Daniel, R., Chawla, J. S., Gall, D. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films. 519, S. 1662-1667Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structural investigation of aluminium-chromium-nitride hard coatings by Raman micro-spectroscopy
Kaindl, R., Franz, R., Soldan, J., Reiter, R., Polcik, P., Mitterer, C., Sartory, B., Tessadri, R. & Sullivan, M. O., 2006, in: Thin solid films. 515, S. 2197-2202Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structural, mechanical and tribological investigations of pulsed laser deposited titanium nitride coatings
Lackner, J. M., Waldhauser, W., Berghauser, R., Ebner, R., Major, B. & Schöberl, T., 2004, in: Thin solid films. 453-454, S. 195-202Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structure and mechanical properties of CrN/TiN multilayer coatings prepared by a combined HIPIMS/UBMS deposition technique
Paulitsch, J., Mayrhofer, P. H., Münz, W.-D. & Schenkel, M., 2008, in: Thin solid films. 517, S. 1239-1244Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structure and properties of high power impulse magnetron sputtering and DC magnetron sputtering CrN and TiN films deposited in an industrial scale unit
Paulitsch, J., Schenkel, M., Zufraß, T., Mayrhofer, P. H. & Münz, W.-D., 2010, in: Thin solid films. 518, S. 5558-5564Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structure and properties of magnetron sputtered Zr-Si-N films with a high (≥25 at.%) Si content
Musil, J., Daniel, R., Zeman, P. & Takai, O., 2005, in: Thin solid films.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structure and Properties of Pulsed-Laser Deposited Carbon Nitride Thin Films
Riascos, H., Neidhardt, J., Radnoczi, G. Z., Emmerlich, J., Zambrano, G., Hultman, L. & Prieto, P., 2006, in: Thin solid films. 497, S. 1-6Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structure and properties of sputter deposited crystalline and amorphous Cu-Ti films
Turnow, H., Wendrock, H., Menzel, S., Gemming, T. & Eckert, J., 1 Jan. 2016, in: Thin solid films. 598, S. 184-188 5 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structure and thermal stability of arc evaporated (Ti0.33Al0.67)1-xSixN thin films
Flink, A., Andersson, J. M., Alling, B., Daniel, R., Sjölen, J., Karlsson, L. & Hultmann, L., 2008, in: Thin solid films. 517, S. 714-721Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
