Review of scientific instruments, 0034-6748
Fachzeitschrift: Zeitschrift
| ISSNs | 0034-6748 |
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11 - 12 von 12Seitengröße: 10
Publikationen
- 2010
- Veröffentlicht
Imaging dislocations in gallium nitride across broad areas using atomic force microscopy
Bennett, S. E., Holec, D., Kappers, M. J., Humphreys, C. J. & Oliver, R. A., 2010, in: Review of scientific instruments. S. 0637011-0637017Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2007
- Veröffentlicht
High-temperature residual stresses in thin films characterized by x-ray diffraction substrate curvature method
Keckes, J., Eiper, E., Martinschitz, K. J., Köstenbauer, H., Daniel, R. & Mitterer, C., 2007, in: Review of scientific instruments. 78, S. 036103-01-036103-03Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
