Journal of applied crystallography, 0021-8898
Fachzeitschrift: Zeitschrift
| ISSNs | 0021-8898, 1600-5767 |
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Publikationen
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X-ray nanodiffraction analysis of stress oscillations in a W thin film on through-silicon via
Todt, J., Hammer, H., Sartory, B., Burghammer, M., Kraft, J., Daniel, R., Keckes, J. & Defregger, S., 2016, in: Journal of applied crystallography. 49, S. 182-187 6 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray analysis of residual stress gradients in TiN coatings by a Laplace space approach and cross-sectional nanodiffraction: a critical comparison
Steffenelli, M., Todt, J., Riedl, A., Ecker, W., Müller, T., Daniel, R., Burghammer, M. & Keckes, J., 2013, in: Journal of applied crystallography. 46, S. 1-8Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Two-dimensional indirect Fourier transformation for evaluation of small-angle scattering data of oriented samples
Fritz-Popovski, G., 2013, in: Journal of applied crystallography. 46, S. 1447-1454Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Symmetry properties and transformation behaviour of the X-ray stress factors
Ortner, B., 2006, in: Journal of applied crystallography. 39, S. 401-409Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Simultaneous determination of experimental elastic and thermal strains in thin films
Keckes, J., 2005, in: Journal of applied crystallography. 38, S. 311-318Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Separation of scattering contributions from carbides and gamma' precipitates in Nimonic 80a by combining small-angle X-ray and neutron scattering
Zickler, G., Tian, B., Lind, C. & Paris, O., 2003, in: Journal of applied crystallography. 36, S. 484-488Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Scanning small-angle X-ray scattering analysis of the size and organization of the mineral nanoparticles in fluorotic bone using a stack of cards model
Gourrier, A., Li, C., Siegel, S., Paris, O., Roschger, P., Klaushofer, K. & Fratzl, P., 2010, in: Journal of applied crystallography. 43, S. 1385-1392Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Sample tilt-free characterization of residual stress gradients in thin coatings using an in-plane arm-equipped laboratory X-ray diffractometer
Benediktovitch, A. I., Ulyanenkova, T., Keckes, J. & Ulyanenkov, A. P., 2014, in: Journal of applied crystallography. S. 1931-938Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Rapid determination of stress factors and absolute residual stresses in thin films
Martinschitz, K. J., Eiper, E., Massl, S., Köstenbauer, H., Daniel, R., Fontalvo, G., Mitterer, C. & Keckes, J., 2006, in: Journal of applied crystallography. 39, S. 777-783Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Quantifying adsorption-induced deformation of nanoporous materials on different length scales
Morak, R., Braxmeier, S., Ludescher, L., Putz, F., Busch, S., Hüsing, N., Reichenauer, G. & Paris, O., 2017, in: Journal of applied crystallography. 50.2017, S. 1404-1410 7 S., 5.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
