Automatic etch pit detection and characterization in KOH etch images of 4H-SiC using deep learning

Aktivität: Gespräch oder VortragMündliche Präsentation

Teilnehmer

Datum

23 Juli 2024

Georg Holub - Redner

Sebastian Hofer - Beitragende/r

Thomas Obermüller - Beitragende/r

Lorenz Romaner - Beitragende/r

23 Juli 2024

Veranstaltung (Konferenz)

Titel8th European Conference on Crystal Growth (ECCG8)
Zeitraum21/07/2425/07/24
OrtWarschau
Land/GebietPolen