Automatic etch pit detection and characterization in KOH etch images of 4H-SiC using deep learning
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Details
| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Status | Veröffentlicht - 2024 |
| Veranstaltung | International Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ICSCRM 2024) - North Carolina, USA / Vereinigte Staaten Dauer: 29 Sept. 2024 → 4 Okt. 2024 |
Konferenz
| Konferenz | International Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ICSCRM 2024) |
|---|---|
| Land/Gebiet | USA / Vereinigte Staaten |
| Ort | North Carolina |
| Zeitraum | 29/09/24 → 4/10/24 |
