Automatic detection of defects in KOH etch images of SiC single crystals using instance segmentation

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OriginalspracheEnglisch
StatusVeröffentlicht - 2023
VeranstaltungAIMSE 2023 - Saarbrücken, Deutschland
Dauer: 22 Nov. 202323 Nov. 2023

Konferenz

KonferenzAIMSE 2023
Land/GebietDeutschland
OrtSaarbrücken
Zeitraum22/11/2323/11/23