The contribution of 180° domain wall motion to dielectric properties quantified from in situ X-ray diffraction

Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

Autoren

  • C. M. Fancher
  • S. Brewer
  • C. C. Chung
  • Sören Röhrig
  • T. Rojac
  • G. Esteves
  • N. Bassiri-Gharb
  • J. L. Jones

Details

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)36-43
Seitenumfang8
FachzeitschriftActa materialia
Jahrgang126
DOIs
StatusVeröffentlicht - 2017