Temperature dependent bais-stress measurement in organic thin film Transistors
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Temperature dependent bais-stress measurement in organic thin film Transistors. / Obermüller, T.; Marchl, M.; Ausserlechner, S.J. et al.
2009. Postersitzung präsentiert bei International Conference on Organic Electronics 2009, Liverpool, Großbritannien / Vereinigtes Königreich.
2009. Postersitzung präsentiert bei International Conference on Organic Electronics 2009, Liverpool, Großbritannien / Vereinigtes Königreich.
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Obermüller, T, Marchl, M, Ausserlechner, SJ, Golubkov, AW, Haase, A, Stadlober, B, Hauser, L, Trimmel, G, Edler, M, Grießer, T, Kern, W & Zojer, E 2009, 'Temperature dependent bais-stress measurement in organic thin film Transistors', International Conference on Organic Electronics 2009, Liverpool, Großbritannien / Vereinigtes Königreich, 15/06/09 - 17/06/09.
APA
Obermüller, T., Marchl, M., Ausserlechner, S. J., Golubkov, A. W., Haase, A., Stadlober, B., Hauser, L., Trimmel, G., Edler, M., Grießer, T., Kern, W., & Zojer, E. (2009). Temperature dependent bais-stress measurement in organic thin film Transistors. Postersitzung präsentiert bei International Conference on Organic Electronics 2009, Liverpool, Großbritannien / Vereinigtes Königreich.
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Obermüller T, Marchl M, Ausserlechner SJ, Golubkov AW, Haase A, Stadlober B et al.. Temperature dependent bais-stress measurement in organic thin film Transistors. 2009. Postersitzung präsentiert bei International Conference on Organic Electronics 2009, Liverpool, Großbritannien / Vereinigtes Königreich.
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@conference{89d1023ab60d4a7080add1674ae8a8f9,
title = "Temperature dependent bais-stress measurement in organic thin film Transistors",
author = "T. Oberm{\"u}ller and M. Marchl and S.J. Ausserlechner and Golubkov, {A. W.} and A. Haase and B. Stadlober and L. Hauser and G. Trimmel and Matthias Edler and Thomas Grie{\ss}er and Wolfgang Kern and E. Zojer",
year = "2009",
language = "Deutsch",
note = "International Conference on Organic Electronics 2009 ; Conference date: 15-06-2009 Through 17-06-2009",
}
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TY - CONF
T1 - Temperature dependent bais-stress measurement in organic thin film Transistors
AU - Obermüller, T.
AU - Marchl, M.
AU - Ausserlechner, S.J.
AU - Golubkov, A. W.
AU - Haase, A.
AU - Stadlober, B.
AU - Hauser, L.
AU - Trimmel, G.
AU - Edler, Matthias
AU - Grießer, Thomas
AU - Kern, Wolfgang
AU - Zojer, E.
PY - 2009
Y1 - 2009
M3 - Poster
T2 - International Conference on Organic Electronics 2009
Y2 - 15 June 2009 through 17 June 2009
ER -