Temperature dependent bais-stress measurement in organic thin film Transistors

Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

Autoren

  • T. Obermüller
  • M. Marchl
  • S.J. Ausserlechner
  • A. W. Golubkov
  • A. Haase
  • B. Stadlober
  • L. Hauser
  • G. Trimmel
  • E. Zojer

Details

Titel in ÜbersetzungTemperature dependent bais-stress measurement in organic thin film Transistors
OriginalspracheDeutsch
StatusVeröffentlicht - 2009
VeranstaltungInternational Conference on Organic Electronics 2009 - University of Liverpool, Liverpool, Großbritannien / Vereinigtes Königreich
Dauer: 15 Juni 200917 Juni 2009

Konferenz

KonferenzInternational Conference on Organic Electronics 2009
Land/GebietGroßbritannien / Vereinigtes Königreich
OrtLiverpool
Zeitraum15/06/0917/06/09