Temperature dependent bais-stress measurement in organic thin film Transistors
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Details
Titel in Übersetzung | Temperature dependent bais-stress measurement in organic thin film Transistors |
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Originalsprache | Deutsch |
Status | Veröffentlicht - 2009 |
Veranstaltung | International Conference on Organic Electronics 2009 - University of Liverpool, Liverpool, Großbritannien / Vereinigtes Königreich Dauer: 15 Juni 2009 → 17 Juni 2009 |
Konferenz
Konferenz | International Conference on Organic Electronics 2009 |
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Land/Gebiet | Großbritannien / Vereinigtes Königreich |
Ort | Liverpool |
Zeitraum | 15/06/09 → 17/06/09 |