Publikationen

  1. 2004
  2. Veröffentlicht

    Pattern formation in para-quaterphenyl film growth on gold substrates

    Hlawacek, G., Teichert, C., Müllegger, S., Resel, R. & Winkler, A., 2004, in: Synthetic Metals. 146, S. 383-386

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Small Angle X-Ray Scattering (SAXS) of Novel Pd Bionanocatalysts

    Aichmayer, B., Jäger, I., Mertig, M., Paris, O. & Fratzl, P., 2004.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    Structure and morphology of sexiphenyl thin films grown on aluminium (111)

    Resel, R., Salzmann, I., Hlawacek, G., Teichert, C., Koppelhuber, B., Winter, B., Krenn, J. K., Ivanco, J. & Ramsey, M. G., 2004, in: Organic electronics. 5, S. 45-51

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht

    The manipulation of thin film layer growth of quaterphenyl on Au(111)

    Winkler, A., Müllegger, S., Salzmann, I., Resel, R., Hlawacek, G. & Teichert, C., 2004, Symposium on Surface Science 2004. S. 163-164

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Konferenzband

  6. 2003
  7. Veröffentlicht

    Local microstructure and its influence on precipitation behavior in hot deformed Nimonic 80a

    Tian, B., Zickler, G., Lind, C. & Paris, O., 2003, in: Acta materialia. 51, S. 4149-4160

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht
  9. Veröffentlicht

    Molecular alignments in sexiphenyl thin films epitaxially grown on muscovite

    Plank, H., Resel, R., Sitter, H., Andreev, A., Sariciftci, N. S., Hlawacek, G., Teichert, C., Thierry, A. & Lotz, B., 2003, in: Thin solid films. 443, S. 108-114

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    Separation of scattering contributions from carbides and gamma' precipitates in Nimonic 80a by combining small-angle X-ray and neutron scattering

    Zickler, G., Tian, B., Lind, C. & Paris, O., 2003, in: Journal of applied crystallography. 36, S. 484-488

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  11. 2002
  12. Veröffentlicht
  13. Veröffentlicht

    Characterization of silicon gate oxides by conducting atomic-force microscopy

    Kremmer, S., Teichert, C., Pischler, E., Gold, H., Kuchar, F. & Schatzmayr, M., 2002, in: Surface and interface analysis. 33, S. 168-172

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)