Publikationen

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2011
Veröffentlicht
Testmessungen mittels Leitfähigkeitsrasterkraftmikroskopie an 30 µm x 1600µm
Beinik, I. & Teichert, C., 2011
Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Wachstum magnetischer Nanoobjekte durch Selbstorganisation auf verschiedenen Substraten: Endbericht ÖAD-Projekt FR 13/2009
Teichert, C., 2011, 3 S.
Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
2010
Veröffentlicht
AFM based morphological and electrical characterization of hot wall epitaxy grown 6P/SiO2
Kratzer, M., Klima, S., Beinik, I., Shen, Q., Lugstein, A. & Teichert, C., 2010.
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
AFM-Untersuchungen zufallsrauher Polymeroberflächen
Miskovic, O., Schmied, F. & Teichert, C., 2010
Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Atomic force microscopy as metrology tool for identificationof phases in two- or multi-component polymer systems
Weber, A., Resch, K. & Teichert, C., 2010, 10th Austrian Polymer Meeting and 2nd Joint Austrian-Slovenian Polymer Meeting. S. 64-67
Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
Veröffentlicht
Atomic force microscopy studies on the morphology of polymeric thermotropic glazings for overheating protection applications
Weber, A., Resch, K. & Teichert, C., 2010, Polymeric Materials 2010. S. 0-0
Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
Veröffentlicht
C-AFM and FFM measurements of tribological samples
Shen, Q. & Teichert, C., 2010
Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Characterization of Kraft Pulp Fiber Surfaces using Higher Harmonic Atomic Force Microscopy
Schmied, F., Teichert, C., Kappel, L., Hirn, U. & Schennach, R., 2010.
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Combined C-AFM/PFM investigations of ZnO nanorods
Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Brauer, G., Anwand, W., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 2010.
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Complementary electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge: KPFM and C-AFM exploration
Beinik, I., Galiana, B., Kratzer, M., Rey-Stolle, I., Algora, C., Tejedor, P. & Teichert, C., 2010.
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

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Testmessungen mittels Leitfähigkeitsrasterkraftmikroskopie an 30 µm x 1600µm

Wachstum magnetischer Nanoobjekte durch Selbstorganisation auf verschiedenen Substraten: Endbericht ÖAD-Projekt FR 13/2009

AFM based morphological and electrical characterization of hot wall epitaxy grown 6P/SiO2

AFM-Untersuchungen zufallsrauher Polymeroberflächen

Atomic force microscopy as metrology tool for identificationof phases in two- or multi-component polymer systems

Atomic force microscopy studies on the morphology of polymeric thermotropic glazings for overheating protection applications

C-AFM and FFM measurements of tribological samples

Characterization of Kraft Pulp Fiber Surfaces using Higher Harmonic Atomic Force Microscopy

Combined C-AFM/PFM investigations of ZnO nanorods

Complementary electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge: KPFM and C-AFM exploration

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