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  1. 2013
  2. Veröffentlicht

    Atomic force microscopy based manipulation of graphene using dynamic plowing lithography

    Vasić, B., Kratzer, M., Matković, A., Nevosad, A., Ralević, U., Jovanović, D., Ganser, C., Teichert, C. & Gajić, R., 2013, in: Nanotechnology. 24, S. 015303-015303

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Charge behavior on insulating monocrystallic surfaces by Kelvin probe force microscopy

    Mirkowska, M., Kratzer, M., Teichert, C. & Flachberger, H., 2013.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    Charging behavior of the calcite (100) surface investigated by KPFM

    Mirkowska, M., Kratzer, M., Teichert, C. & Flachberger, H., 2013.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht

    Elektrostatische Trennung in der Rohstoffverarbeitung - Bestandsaufnahme, Herausforderungen und Ausblick

    Flachberger, H., Mirkowska, M., Oberrauner, A., Geißler, T., Kratzer, M. & Teichert, C., 2013, Rohstoffe sind Zukunft. S. 349-369

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband

  6. Veröffentlicht

    Kelvin probe force microscopy investigations of the contact charging of single crystalline insulators

    Mirkowska, M., Kratzer, M., Teichert, C. & Flachberger, H., 2013.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    Photoresponse from single upright standing ZnO nanorods explored by photoconductive atomic force microscopy

    Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Wachauer, A., Wang, L., Pyriatinsky, Y. P., Brauer, G., Chen, X. Y., Hsu, Y. F. & Djurisic, A., 2013, in: Beilstein journal of nanotechnology . 4, S. 208-217

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    Temperature dependent growth morphologies of parahexaphenyl on SiO2 supported exfoliated graphene

    Kratzer, M., Klima, S., Teichert, C., Gajić, R., Vasić, B., Matković, A. & Ralevic, U., 2013, in: Journal of vacuum science & technology / B (JVST). 31, S. 04D114-1-04D114-7

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  9. 2012
  10. Veröffentlicht

    Erratum: Electrical properties of ZnO nanorods studied by conductive atomic force microscopy (Journal of Applied Physics (2011) 110 (052005))

    Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Lechner, R., Teichert, C., Motz, C., Anwand, W., Brauer, G., Chen, X. Y., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 1 Okt. 2012, in: Journal of applied physics. 112.2012, 7, 1 S., 079903.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Entscheidungsbesprechung › (peer-reviewed)

  11. Veröffentlicht

    Dynamic plowing lithography and 6P thin film growth on graphene investigated by atomic force microscopy

    Kratzer, M., Klima, S., Vasić, B., Gajić, R., Matković, A., Ralević, U. & Teichert, C., 2012.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  12. Veröffentlicht

    Electrical and photovoltaic properties of self assembled Ge nanodomes on Si(001)

    Kratzer, M., Prehal, C., Rubezhanska, M., Beinik, I., Kondratenko, S., Kozyrev, Y. & Teichert, C., 2012, in: Physical review : B, Condensed matter and materials physics. 86, S. 245320-1-245320-7

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

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