Publikationen

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2010
Veröffentlicht
Investigation of the fatigue behavior of Al thin films with different microstructure
Dehm, G., Heinz, W. & Pippan, R., 2010, in: Materials science and engineering: A, Structural materials: properties, microstructure and processing. S. 7757-7763
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Veröffentlicht
KKKÖ Meeting
Dehm, G., 2010
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Veröffentlicht
Laying the groundwork - The search for damage resistant materials
Dehm, G., 2010, in: Public service review: European science & technology : an independent reviewPublic Service Review. 5, S. 76-77
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Veröffentlicht
Micron-sized fracture experiments on amorphous SiOx films and SiOx/SiNx multi-layers
Matoy, K., Schönherr, H., Detzel, T. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films. 518, S. 5796-5801
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Microplasticity phenomena in thermomechanically strained nickel thin films
Taylor, A., Oh, S. H. & Dehm, G., 2010, in: Journal of materials science. 45, S. 3874-3881
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Veröffentlicht
Nano-scale sliding contact deformation behaviour of enamel under wet and dry conditions
Jäger, I., Guidoni, G. & Swain, M., 2010, in: Journal of materials science / Materials in medicine. S. 1195-1203
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Nanoindentation of wet and dry compact bone: Influence of environment and indenter tip geometry on the indentation modulus
Jäger, I., Guidoni, G. & Swain, M., 2010, in: Philosophical magazine. S. 553-565
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Stress, Sheet Resistance, and Microstructure Evolution of Electroplated Cu Films During Self-Annealing
Huang, R., Robl, W., Ceric, H., Detzel, T. & Dehm, G., 2010, in: IEEE transactions on device and materials reliability. 10, 1, S. 47-54
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Veröffentlicht
Structural characterization of a Cu/MgO(001) interface using C S-corrected HRTEM
Cazottes, S., Zhang, Z. L., Daniel, R., Chawla, J. S., Gall, D. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films.
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Veröffentlicht
Structural characterization of a Cu/MgO(001) interface using CS-corrected HRTEM
Cazottes, S., Zhang, Z., Daniel, R., Chawla, J. S., Gall, D. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films. 519, S. 1662-1667
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