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  1. 2010
  2. Veröffentlicht

    Micron-sized fracture experiments on amorphous SiOx films and SiOx/SiNx multi-layers

    Matoy, K., Schönherr, H., Detzel, T. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films. 518, S. 5796-5801

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  3. Veröffentlicht

    Microplasticity phenomena in thermomechanically strained nickel thin films

    Taylor, A., Oh, S. H. & Dehm, G., 2010, in: Journal of materials science. 45, S. 3874-3881

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  4. Veröffentlicht

    Microstructural features of the grain-refined sand cast AlZn20 alloy

    Haberl, K., Krajewski, W. K. & Schumacher, P., 2010, in: Archives of Metallurgy and Materials. 55, 3, S. 837-841 5 S.

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  5. Veröffentlicht

    Modelling the effect of SiC mass fraction on crystallization of magnesium metal matrix composite, AZ91/SiC

    Lelito, J., Zak, P., Suchy, J., Krajewski, W., Krawiec, H., Greer, L., Shirzadi, A., Schumacher, P., Haberl, K. & Darlak, P., 2010, in: Inzynieria Materialowa. 3, S. 703-707

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  6. Veröffentlicht

    Modelling the effect of SiC particle size on crystallization of magnesium metal matrix composite, AZ91/SiC

    Zak, P., Lelito, J., Suchy, J., Krajewski, W., Krawiec, H., Haberl, K., Schumacher, P., Greer, L., Shirzadi, A. & Gracz, B., 2010, in: Inzynieria Materialowa. S. 699-702

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  7. Veröffentlicht

    Möglichkeiten einer modifizierten Wärmebehandlung für untereutektische Aluminium-Silizium Legierungen

    Schumacher, P., Pabel, T. & Dambauer, G., 2010, in: Der Wärmebehandlungsmarkt. 17, 3, S. 5-10

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  8. Veröffentlicht

    Schmelzequalität von Al-Legierungen - Charakterisierung als Basis für Verbesserungen

    Haberl, K., Schumacher, P. & Stauder, B., 2010, in: Berg- und hüttenmännische Monatshefte : BHM. S. 493-498

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  9. Veröffentlicht

    Simulation von Verzug und Eigenspannung im Druckguss - ein Vergleich zwischen Simulation und Experiment

    Hofer, P., Kaschnitz, E. & Schumacher, P., 2010, in: Gießerei-Rundschau. S. 182-186

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  10. Veröffentlicht

    Stress, Sheet Resistance, and Microstructure Evolution of Electroplated Cu Films During Self-Annealing

    Huang, R., Robl, W., Ceric, H., Detzel, T. & Dehm, G., 2010, in: IEEE transactions on device and materials reliability. 10, 1, S. 47-54

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  11. Veröffentlicht

    Structural characterization of a Cu/MgO(001) interface using C S-corrected HRTEM

    Cazottes, S., Zhang, Z. L., Daniel, R., Chawla, J. S., Gall, D. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films.

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