Publikationen

  1. 2018
  2. Veröffentlicht

    30 nm X-ray focusing correlates oscillatory stress, texture and structural defect gradients across multilayered Ti N-SiOx thin film

    Keckes, J., Daniel, R., Todt, J., Zalesak, J., Sartory, B., Braun, S., Gluch, J., Rosenthal, M., Burghammer, M. C., Mitterer, C., Niese, S. & Kubec, A., 2018, in: Acta materialia. 144, S. 862-873

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht
  4. Veröffentlicht
  5. Veröffentlicht

    Nanoscale residual stress depth profiling by focused ion beam milling and eigenstrain analysis

    Korsunsky, A. M., Salvati, E., Lunt, A. G. J., Sui, T., Mughal, Z. M., Daniel, R., Keckes, J., Bemporad, E. & Sebastiani, M., 2018, in: Materials and Design. 145, S. 55-64

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht
  7. 2017
  8. Veröffentlicht
  9. Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.

    Corrigendum to “Structural modifications in sub-Tg annealed CuZr-based metallic glass”

    Sarac, B., Bernasconi, A., Wright, J., Stoica, M., Spieckermann, F., Mühlbacher, M., Keckes, J., Bian, X. L., Wang, G. & Eckert, J., 6 Dez. 2017, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Materials science and engineering: A, Structural materials: properties, microstructure and processing. 712.2018, 17 January, S. 819 1 S.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    Gradient residual strain and stress distributions in a high pressure torsion deformed iron disk revealed by high energy X-ray diffraction

    Todt, J., Keckes, J., Winter, G., Staron, P. & Hohenwarter, A., 27 Nov. 2017, in: Scripta Materialia. 146.2018, 15 March, S. 178-181 4 S.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  11. Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.

    Resolving alternating stress gradients and dislocation densities across AlxGa1-xN multilayer structures on Si(111)

    Reisinger, M., Tomberger, M., Zechner, J., Daumiller, I., Sartory, B., Ecker, W., Keckes, J. & Lechner, R. T., 16 Okt. 2017, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Applied physics letters. 111.2017, 16, S. 162103 4 S.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  12. Veröffentlicht

    High resolution residual stress gradient characterization in W/TiN-stack on Si(100): Correlating in-plane stress and grain size distributions in W sublayer

    Hammer, R., Todt, J., Keckes, J., Sartory, B., Parteder, G., Kraft, J. & Defregger, S., 15 Okt. 2017, in: Materials and Design. 132.2017, 15 October, S. 72-78 7 S.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)