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  1. 2003
  2. Veröffentlicht

    Modification and characterization of thin silicon gate oxides using conducting atomic force microscopy

    Kremmer, S., Peissl, S., Teichert, C., Kuchar, F. & Hofer, C., 2003, in: Materials science and engineering B (Solid-state materials for advanced technology). 102, S. 88-93

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Molecular alignments in sexiphenyl thin films epitaxially grown on muscovite

    Plank, H., Resel, R., Sitter, H., Andreev, A., Sariciftci, N. S., Hlawacek, G., Teichert, C., Thierry, A. & Lotz, B., 2003, in: Thin solid films. 443, S. 108-114

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  4. 2002
  5. Veröffentlicht

    35th IUVSTA Workshop “Pattern Formation and Atomic Processes in Epitaxial Growth and Ion Erosion”

    Teichert, C. (Hrsg.), 2002, Eigenverlag.

    Publikationen: Buch/Bericht › Sammelband › Forschung

  6. Veröffentlicht

    Characterization of silicon gate oxides by conducting atomic-force microscopy

    Kremmer, S., Teichert, C., Pischler, E., Gold, H., Kuchar, F. & Schatzmayr, M., 2002, in: Surface and interface analysis. 33, S. 168-172

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  7. 2000
  8. Veröffentlicht

    Pattern formation in PbTe multilayer films

    Teichert, C., Jamnig, B. D. & Oswald, J., 2000, in: Surface Science. S. 823-826

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  9. 1999
  10. Veröffentlicht

    Ferromagnetic data store free from problems of relative positioning of a read-write device with a storage device

    Teichert, C., 30 Sept. 1999

    Publikationen: Patent › Patentschrift

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