Publikationen

  1. 2015
  2. Veröffentlicht

    Evaluation of TiN diffusion barrier layers with different microstructures by transmission electron microscopy and atom probe tomography

    Mühlbacher, M., Mendez Martin, F., Sartory, B., Chitu, L., Lu, J., Schalk, N., Keckes, J., Hultman, L. & Mitterer, C., 2015.

    Publikationen: KonferenzbeitragVortragForschung(peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Functional thin films for display and microelectronics applications

    Mitterer, C., Jörg, T., Franz, R., Mühlbacher, M., Sartory, B., Mendez Martin, F. & Schalk, N., 2015, in: Berg- und hüttenmännische Monatshefte : BHM. 160, 5, S. 231-234

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht
  5. Veröffentlicht
  6. Veröffentlicht
  7. Veröffentlicht
  8. Veröffentlicht

    Pencil-beam X-ray nanodiffraction on CVD α-Al2O3 hard coatings with grain sizes in the micrometer range

    Tkadletz, M., Keckes, J., Schalk, N., Czettl, C. & Mitterer, C., 2015.

    Publikationen: KonferenzbeitragVortragForschung(peer-reviewed)

  9. Veröffentlicht
  10. Veröffentlicht

    Residual stress gradients in alpha-Al2O3 hard coatings determined by pencil-beam X-ray nanodiffraction: The influence of blasting media

    Tkadletz, M., Keckes, J., Schalk, N., Krajinovic, I., Burghammer, M., Czettl, C. & Mitterer, C., 2015, in: Surface & coatings technology. 262, S. 134-140

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  11. Veröffentlicht

    Residual stress gradients in α-Al2O3 hard coatings determined by pencil-beam X-ray nanodiffraction: The influence of blasting media

    Tkadletz, M., Keckes, J., Schalk, N., Krajinovic, I., Burghammer, M., Czettl, C. & Mitterer, C., 2015, in: Surface & coatings technology. 262, S. 134 - 140 7 S.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)