Observation of structural depth profile of porous silicon by atomic force microscopy
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Autoren
Organisationseinheiten
Details
| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Seiten (von - bis) | 349-352 |
| Fachzeitschrift | Journal of porous materials |
| Status | Veröffentlicht - 2000 |
