Journal of porous materials
Fachzeitschrift: Zeitschrift
| Weitere suchbare ISSN (eISSN) | 1573-4854 |
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Publikationen
- 2000
- Veröffentlicht
Observation of structural depth profile of porous silicon by atomic force microscopy
Prohaska, T. & Chang, D., 2000, in: Journal of porous materials. S. 349-352Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
