Eigenspannungs-Charakterisierung mittels Röntgendiffraktometrie
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Eigenspannungs-Charakterisierung mittels Röntgendiffraktometrie. / Keckes, Jozef; Eiper, Ernst.
Handbuch der Nanoanalytik. 2005. S. 147-149.
Handbuch der Nanoanalytik. 2005. S. 147-149.
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Keckes, J & Eiper, E 2005, Eigenspannungs-Charakterisierung mittels Röntgendiffraktometrie. in Handbuch der Nanoanalytik. S. 147-149.
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Keckes, J., & Eiper, E. (2005). Eigenspannungs-Charakterisierung mittels Röntgendiffraktometrie. In Handbuch der Nanoanalytik (S. 147-149)
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Keckes J, Eiper E. Eigenspannungs-Charakterisierung mittels Röntgendiffraktometrie. in Handbuch der Nanoanalytik. 2005. S. 147-149
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TY - CHAP
T1 - Eigenspannungs-Charakterisierung mittels Röntgendiffraktometrie
AU - Keckes, Jozef
AU - Eiper, Ernst
PY - 2005
Y1 - 2005
M3 - Beitrag in Buch/Sammelband
SP - 147
EP - 149
BT - Handbuch der Nanoanalytik
ER -
