Eigenspannungs-Charakterisierung mittels Röntgendiffraktometrie

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Eigenspannungs-Charakterisierung mittels Röntgendiffraktometrie. / Keckes, Jozef; Eiper, Ernst.
Handbuch der Nanoanalytik. 2005. p. 147-149.

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Keckes, J & Eiper, E 2005, Eigenspannungs-Charakterisierung mittels Röntgendiffraktometrie. in Handbuch der Nanoanalytik. pp. 147-149.

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Keckes, J., & Eiper, E. (2005). Eigenspannungs-Charakterisierung mittels Röntgendiffraktometrie. In Handbuch der Nanoanalytik (pp. 147-149)

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Keckes J, Eiper E. Eigenspannungs-Charakterisierung mittels Röntgendiffraktometrie. In Handbuch der Nanoanalytik. 2005. p. 147-149

Author

Keckes, Jozef ; Eiper, Ernst. / Eigenspannungs-Charakterisierung mittels Röntgendiffraktometrie. Handbuch der Nanoanalytik. 2005. pp. 147-149

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@inbook{eacc49e751aa4f0da6a1afd7c17ca311,
title = "Eigenspannungs-Charakterisierung mittels R{\"o}ntgendiffraktometrie",
author = "Jozef Keckes and Ernst Eiper",
year = "2005",
language = "Deutsch",
pages = "147--149",
booktitle = "Handbuch der Nanoanalytik",

}

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TY - CHAP

T1 - Eigenspannungs-Charakterisierung mittels Röntgendiffraktometrie

AU - Keckes, Jozef

AU - Eiper, Ernst

PY - 2005

Y1 - 2005

M3 - Beitrag in Buch/Sammelband

SP - 147

EP - 149

BT - Handbuch der Nanoanalytik

ER -