Critical thickness for GaN thin film on AlN substrate
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
Standard
Critical thickness for GaN thin film on AlN substrate. / Coppeta, R.A.; Ceric, H; Holec, David et al.
2013. Postersitzung präsentiert bei International Integrated Reliability Workshop, Fallen Leaf Lake, Kalifornien, USA / Vereinigte Staaten.
2013. Postersitzung präsentiert bei International Integrated Reliability Workshop, Fallen Leaf Lake, Kalifornien, USA / Vereinigte Staaten.
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Harvard
Coppeta, RA, Ceric, H, Holec, D & Grasser, T 2013, 'Critical thickness for GaN thin film on AlN substrate', International Integrated Reliability Workshop, Fallen Leaf Lake, USA / Vereinigte Staaten, 13/10/13 - 17/10/13.
APA
Coppeta, R. A., Ceric, H., Holec, D., & Grasser, T. (2013). Critical thickness for GaN thin film on AlN substrate. Postersitzung präsentiert bei International Integrated Reliability Workshop, Fallen Leaf Lake, Kalifornien, USA / Vereinigte Staaten.
Vancouver
Coppeta RA, Ceric H, Holec D, Grasser T. Critical thickness for GaN thin film on AlN substrate. 2013. Postersitzung präsentiert bei International Integrated Reliability Workshop, Fallen Leaf Lake, Kalifornien, USA / Vereinigte Staaten.
Author
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title = "Critical thickness for GaN thin film on AlN substrate",
author = "R.A. Coppeta and H Ceric and David Holec and T. Grasser",
year = "2013",
language = "English",
note = "International Integrated Reliability Workshop ; Conference date: 13-10-2013 Through 17-10-2013",
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TY - CONF
T1 - Critical thickness for GaN thin film on AlN substrate
AU - Coppeta, R.A.
AU - Ceric, H
AU - Holec, David
AU - Grasser, T.
PY - 2013
Y1 - 2013
M3 - Poster
T2 - International Integrated Reliability Workshop
Y2 - 13 October 2013 through 17 October 2013
ER -
