Critical thickness for GaN thin film on AlN substrate
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Autoren
Organisationseinheiten
Details
| Titel in Übersetzung | Critical thickness for GaN thin film on AlN substrate |
|---|---|
| Originalsprache | Englisch |
| Status | Veröffentlicht - 2013 |
| Veranstaltung | International Integrated Reliability Workshop - Fallen Leaf Lake, USA / Vereinigte Staaten Dauer: 13 Okt. 2013 → 17 Okt. 2013 |
Konferenz
| Konferenz | International Integrated Reliability Workshop |
|---|---|
| Land/Gebiet | USA / Vereinigte Staaten |
| Ort | Fallen Leaf Lake |
| Zeitraum | 13/10/13 → 17/10/13 |
