Yue Hou
(Ehemalig)
Publikationen
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Topography and conductivity measurements on nanostructures using atomic-force microscopy
Hou, Y., 2007Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Diplomarbeit
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Scanning Probe Microscopy-based Characterization of ZnO Nanorods
Teichert, C., Hou, Y., Beinik, I., Chen, Y., Djuricis, A., Anwand, W. & Brauer, G., 2010, Abstract CD IEEE International NanoElectronics Conference (INEC 2010). S. 438-439Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Para-sexiphenyl thin films grown on dielectric substrates
Andreev, A., Montaigne, A., Hlawacek, G., Hou, Y., Haber, T., Resel, R., Teichert, C., Sitter, H. & Sariciftci, N. S., 2006, Para-sexiphenyl thin films grown on dielectric substrates. AIP, American Inst. of Physics, S. 328-328Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Non-destructive characterization of vertical ZnO nanowire arrays by slow positron implantation spectroscopy, atomic force microscopy, and nuclear reaction analysis
Brauer, G., Anwand, W., Grambole, D., Skorupa, W., Hou, Y., Andreev, A., Teichert, C., Tam, K. H. & Djurisic, A. B., 2007, in: Nanotechnology. 18, S. 195301-1-195301-8Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Measurements of I-V-characteristics on a cross-sectional PZT sample with conductive AFM
Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Investigation with conductive AFM of a cross sectional PZT reference sample
Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Electrical characterization of ZnO multilayer varistors on the nanometre scale with conductive atomic force microscopy
Schloffer, M., Teichert, C., Supancic, P., Andreev, A., Hou, Y. & Wang, Z., 2010, in: Journal of the European Ceramic Society. 30, S. 1761-1764Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Detailed Investigation with conductive AFM on cross sectional PZT sample TN0648801
Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Detailed Investigation with conductive AFM on cross sectional PZT sample TN06-363
Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Detailed Investigation with conductive AFM on cross sectional PZT sample halt4714
Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
