Yue Hou
(Ehemalig)
Publikationen
- 2010
- Veröffentlicht
Electrical characterization of ZnO multilayer varistors on the nanometre scale with conductive atomic force microscopy
Schloffer, M., Teichert, C., Supancic, P., Andreev, A., Hou, Y. & Wang, Z., 2010, in: Journal of the European Ceramic Society. 30, S. 1761-1764Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Scanning Probe Microscopy-based Characterization of ZnO Nanorods
Teichert, C., Hou, Y., Beinik, I., Chen, Y., Djuricis, A., Anwand, W. & Brauer, G., 2010, Abstract CD IEEE International NanoElectronics Conference (INEC 2010). S. 438-439Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
- 2007
- Veröffentlicht
Characterization of ZnO nanorods by AFM
Hou, Y., Andreev, A., Teichert, C., Brauer, G. & Djutisic, A., 2007.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of piezo ceramics on the nanoscale by Conducting AFM
Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of vertical arrays of ZnO nanorod by AFM
Hou, Y., Andreev, A., Teichert, C., Brauer, G., Tam, K. H. & Djuricis, A., 2007.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Detailed Investigation with conductive AFM on cross sectional PZT sample 33281-185Ksp
Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Detailed Investigation with conductive AFM on cross sectional PZT sample 905041041Ksp
Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Detailed Investigation with conductive AFM on cross sectional PZT sample TN06-363
Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Detailed Investigation with conductive AFM on cross sectional PZT sample TN0648801
Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Detailed Investigation with conductive AFM on cross sectional PZT sample halt4714
Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)