Yue Hou

(Ehemalig)

Publikationen

  1. 2010
  2. Veröffentlicht
  3. Veröffentlicht

    Scanning Probe Microscopy-based Characterization of ZnO Nanorods

    Teichert, C., Hou, Y., Beinik, I., Chen, Y., Djuricis, A., Anwand, W. & Brauer, G., 2010, Abstract CD IEEE International NanoElectronics Conference (INEC 2010). S. 438-439

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Konferenzband

  4. 2007
  5. Veröffentlicht

    Characterization of ZnO nanorods by AFM

    Hou, Y., Andreev, A., Teichert, C., Brauer, G. & Djutisic, A., 2007.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht

    Characterization of piezo ceramics on the nanoscale by Conducting AFM

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    Characterization of vertical arrays of ZnO nanorod by AFM

    Hou, Y., Andreev, A., Teichert, C., Brauer, G., Tam, K. H. & Djuricis, A., 2007.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    Detailed Investigation with conductive AFM on cross sectional PZT sample 33281-185Ksp

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007

    Publikationen: Buch/BerichtForschungsberichtTransfer(peer-reviewed)

  9. Veröffentlicht

    Detailed Investigation with conductive AFM on cross sectional PZT sample 905041041Ksp

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007

    Publikationen: Buch/BerichtForschungsberichtTransfer(peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    Detailed Investigation with conductive AFM on cross sectional PZT sample TN06-363

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007

    Publikationen: Buch/BerichtForschungsberichtTransfer(peer-reviewed)

  11. Veröffentlicht

    Detailed Investigation with conductive AFM on cross sectional PZT sample TN0648801

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007

    Publikationen: Buch/BerichtForschungsberichtTransfer(peer-reviewed)

  12. Veröffentlicht

    Detailed Investigation with conductive AFM on cross sectional PZT sample halt4714

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007

    Publikationen: Buch/BerichtForschungsberichtTransfer(peer-reviewed)

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