Yue Hou

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Publikationen

  1. Veröffentlicht

    Detailed Investigation with conductive AFM on cross sectional PZT sample 905041041Ksp

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007

    Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)

  2. Veröffentlicht

    Investigation with conductive AFM of a cross sectional PZT reference sample

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006

    Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Detailed Investigation with conductive AFM on cross sectional PZT sample halt4714

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007

    Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    Characterization of piezo ceramics on the nanoscale by Conducting AFM

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht

    Detailed Investigation with conductive AFM on cross sectional PZT sample 33281-185Ksp

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007

    Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht

    Characterization of ZnO nanorods by AFM

    Hou, Y., Andreev, A., Teichert, C., Brauer, G. & Djutisic, A., 2007.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    Characterization of piezo ceramics on the nano scale by Conducting AFM

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    Topography and conductivity measurements on nanostructures using atomic-force microscopy

    Hou, Y., 2007

    Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Diplomarbeit

  9. Veröffentlicht

    Electrical characterization of ZnO multilayer varistors on the nanometre scale with conductive atomic force microscopy

    Schloffer, M., Teichert, C., Supancic, P., Andreev, A., Hou, Y. & Wang, Z., 2010, in: Journal of the European Ceramic Society. 30, S. 1761-1764

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    Scanning Probe Microscopy-based Characterization of ZnO Nanorods

    Teichert, C., Hou, Y., Beinik, I., Chen, Y., Djuricis, A., Anwand, W. & Brauer, G., 2010, Abstract CD IEEE International NanoElectronics Conference (INEC 2010). S. 438-439

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband

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