Yue Hou
(Ehemalig)
Publikationen
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Detailed Investigation with conductive AFM on cross sectional PZT sample 905041041Ksp
Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Investigation with conductive AFM of a cross sectional PZT reference sample
Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Detailed Investigation with conductive AFM on cross sectional PZT sample halt4714
Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Characterization of piezo ceramics on the nanoscale by Conducting AFM
Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Detailed Investigation with conductive AFM on cross sectional PZT sample 33281-185Ksp
Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Characterization of ZnO nanorods by AFM
Hou, Y., Andreev, A., Teichert, C., Brauer, G. & Djutisic, A., 2007.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Characterization of piezo ceramics on the nano scale by Conducting AFM
Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Topography and conductivity measurements on nanostructures using atomic-force microscopy
Hou, Y., 2007Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Diplomarbeit
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Electrical characterization of ZnO multilayer varistors on the nanometre scale with conductive atomic force microscopy
Schloffer, M., Teichert, C., Supancic, P., Andreev, A., Hou, Y. & Wang, Z., 2010, in: Journal of the European Ceramic Society. 30, S. 1761-1764Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Scanning Probe Microscopy-based Characterization of ZnO Nanorods
Teichert, C., Hou, Y., Beinik, I., Chen, Y., Djuricis, A., Anwand, W. & Brauer, G., 2010, Abstract CD IEEE International NanoElectronics Conference (INEC 2010). S. 438-439Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
