Rostislav Daniel
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Publikationen
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Resolving depth evolution of microstructure and hardness in sputtered CrN film
Zeilinger, A., Daniel, R., Schöberl, T., Stefenelli, M., Sartory, B., Keckes, J. & Mitterer, C., 2015, in: Thin solid films. 581.2015, April, S. 75-79Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Residual stresses in thermally cycled CrN coatings on steel
Kirchlechner, C., Martinschitz, K. J., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2008, in: Thin solid films. 517, S. 1167-1171Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Residual stresses in thermally cycled Cr-CrN coatings on Si (100) and on steel
Martinschitz, K., Kirchlechner, C., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2007.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Residual stresses in thermally cycled Cr-CrN coatings on Si (100) and on steel
Martinschitz, K. J., Kirchlechner, C., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2008.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Residual stresses in thermally cycled Cr-CrN coatings on Si (100) and on shot peened steel
Martinschitz, K. J., Kirchlechner, C., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2007.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Residual stresses in thermally cycled Cr-crN coatings on Si(100) and on shot peened steel
Martinschitz, K. J., Kirchlechner, C., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2007.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Residual stresses and thermal fatigue in CrN hard coatings characterized by high-temperature synchrotron X-ray diffraction
Kirchlechner, C., Martinschitz, K. J., Daniel, R., Klaus, M., Genzel, C., Mitterer, C. & Keckes, J., 2010, in: Thin solid films. 518, 8, S. 2090-2096Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Recent progress in advanced characterization methods for the development of hard coatings: From improved composition/microstructure/property relations to insights in degradation behavior
Mitterer, C., Mühlbacher, M., Zeilinger, A., Stefenelli, M., Daniel, R., Tkadletz, M., Schalk, N., Sartory, B. & Keckes, J., 2015.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)
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Realistic structural properties of amorphous SiNx from machine-learning-assisted molecular dynamics
Nayak, G. K., Prashanth, S., Todt, J., Daniel, R. & Holec, D., 2023.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung
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Rapid determination of stress factors and absolute residual stresses in thin films
Martinschitz, K. J., Eiper, E., Massl, S., Köstenbauer, H., Daniel, R., Fontalvo, G., Mitterer, C. & Keckes, J., 2006, in: Journal of applied crystallography. 39, S. 777-783Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
