Rostislav Daniel
Publikationen
- Veröffentlicht
TEM characterization of CrN thin films epitaxially grown on MgO (001)
Harzer, T. P., Kormout, K., Daniel, R., Mitterer, C., Dehm, G. & Zhang, Z. L., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Superior oxidation resistance, mechanical properties and residual stresses of an Al-rich nanolamellar Ti0.05Al0.95N coating prepared by CVD
Todt, J., Pitonak, R., Köpf, A., Weißenbacher, R., Sartory, B., Burghammer, M., Daniel, R., Schöberl, T. & Keckes, J., 2014, in: Surface & coatings technology. 258.2014, November, S. 1119-1127Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Structure-stress relationships in nanocrystalline multi-layered AlCrN coatings studied by cross-sectional X-ray nanodiffraction
Klima, S., Jäger, N., Hruby, H., Mitterer, C., Keckes, J. & Daniel, R., 2016.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung
- Veröffentlicht
Structure-stress relationships in nanocrystalline multilayered Al0.7Cr0.3N/Al0.9Cr0.1N coatings studied by cross-sectional X-ray nanodiffraction
Klima, S., Jäger, N., Hruby, H., Mitterer, C., Keckes, J., Burghammer, M. & Daniel, R., 15 Mai 2019, in: Materials and Design. 170, S. 1-9 107702.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Structure related stress gradients in thin nanocrystalline films revealed by X-ray nanodiffraction
Daniel, R., Keckes, J. & Mitterer, C., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Structure and thermal stability of arc evaporated (Ti0.33Al0.67)1-xSixN thin films
Flink, A., Andersson, J. M., Alling, B., Daniel, R., Sjölen, J., Karlsson, L. & Hultmann, L., 2008, in: Thin solid films. 517, S. 714-721Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Structure and properties of magnetron sputtered Zr-Si-N films with a high (≥25 at.%) Si content
Musil, J., Daniel, R., Zeman, P. & Takai, O., 2005, in: Thin solid films.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Structure and mechanical properties of magnetron sputtered Zr-Ti-Cu-N films
Musil, J. & Daniel, R., 2003, in: Surface & coatings technology.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Structural characterization of a Cu/MgO(001) interface using CS-corrected HRTEM
Cazottes, S., Zhang, Z., Daniel, R., Chawla, J. S., Gall, D. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films. 519, S. 1662-1667Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Structural characterization of a Cu/MgO(001) interface using C S-corrected HRTEM
Cazottes, S., Zhang, Z. L., Daniel, R., Chawla, J. S., Gall, D. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
