Rostislav Daniel
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Publikationen
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Advanced characterisation of the Cu-MgO interface structure by Cs-corrected high-resolution transmission electron microscopy
Zhang, Z., Daniel, R., Dehm, G. & Mitterer, C., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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A combinatorial X-ray sub-micron diffraction study of microstructure, residual stress and phase stability in TiAlN coatings
Riedl, A., Daniel, R., Todt, J., Steffenelli, M., Holec, D., Sartory, B., Krywka, C., Müller, M., Mitterer, C. & Keckes, J., 2014, in: Surface & coatings technology. 257, S. 108-113Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Accurate prediction of structural and mechanical properties on amorphous materials enabled through machine-learning potentials: A case study of silicon nitride
Nayak, G. K., Srinivasan, P., Todt, J., Daniel, R., Nicolini, P. & Holec, D., 6 Jan. 2025, in: Computational materials science. 249.2025, 5 February, 11 S., 113629.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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30 nm X-ray focusing correlates oscillatory stress, texture and structural defect gradients across multilayered Ti N-SiOx thin film
Keckes, J., Daniel, R., Todt, J., Zalesak, J., Sartory, B., Braun, S., Gluch, J., Rosenthal, M., Burghammer, M. C., Mitterer, C., Niese, S. & Kubec, A., 2018, in: Acta materialia. 144, S. 862-873Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
