Rostislav Daniel
Publikationen
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Strategies for fracture toughness enhancement of thin films by advanced microstructural design - Examples of bio-inspired model soft-hard crystalline -amorphous coatings systems
Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2014.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)
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Stress-controlled decomposition routes in cubic AlCrN films assessed by in-situ high-temperature high-energy grazing incidence transmission X-ray diffraction
Meindlhumer, M., Klima, S., Jäger, N., Stark, A., Hruby, H., Mitterer, C., Keckes, J. & Daniel, R., 2 Dez. 2019, in: Scientific reports (London : Nature Publishing Group). 2019, 9, 14 S., 18027.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Stress design of hard coatings
Daniel, R., Keckes, J. & Mitterer, C., 2011, Proceeding of International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films. S. 55-55Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Stress evolution in CrN/Cr coating systems during thermal straining
Martinschitz, K. J., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2008, in: Thin solid films. 516, S. 1972-1976Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structural characterization of a Cu/MgO(001) interface using C S-corrected HRTEM
Cazottes, S., Zhang, Z. L., Daniel, R., Chawla, J. S., Gall, D. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structural characterization of a Cu/MgO(001) interface using CS-corrected HRTEM
Cazottes, S., Zhang, Z., Daniel, R., Chawla, J. S., Gall, D. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films. 519, S. 1662-1667Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structure and mechanical properties of magnetron sputtered Zr-Ti-Cu-N films
Musil, J. & Daniel, R., 2003, in: Surface & coatings technology.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structure and properties of magnetron sputtered Zr-Si-N films with a high (≥25 at.%) Si content
Musil, J., Daniel, R., Zeman, P. & Takai, O., 2005, in: Thin solid films.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structure and thermal stability of arc evaporated (Ti0.33Al0.67)1-xSixN thin films
Flink, A., Andersson, J. M., Alling, B., Daniel, R., Sjölen, J., Karlsson, L. & Hultmann, L., 2008, in: Thin solid films. 517, S. 714-721Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structure related stress gradients in thin nanocrystalline films revealed by X-ray nanodiffraction
Daniel, R., Keckes, J. & Mitterer, C., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
