Rostislav Daniel
Publikationen
- 2013
- Veröffentlicht
Cross-sectional X-ray nanobeam diffraction analysis of a compositionally graded CrNx thin film
Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Matko, I., Burghammer, M., Mayrhofer, P. H. & Keckes, J., 2013, in: Thin solid films. 542, S. 1-4Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Influence of Al and Si content on structure and mechanical properties of arc evaporated Al-Cr-Si-N thin films
Tritremmel, C., Daniel, R., Lechthaler, M., Pocik, P. & Mitterer, C., 2013, in: Thin solid films. 534, S. 403-409Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Insights into the atomic and electronic structure triggered by ordered nitrogen vacancies in CrN
Zhang, Z., Li, H., Daniel, R., Mitterer, C. & Dehm, G., 2013, in: Physical review : B, Condensed matter and materials physics. 87, S. 0141041-0141049Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Novel TiAlN nanostructured CVD coatings with superior oxidation resistance
Keckes, J., Todt, J., Daniel, R., Mitterer, C., Köpf, A., Weißenbacher, R. & Pitonak, R., 2013.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Origins of microstructure and stress gradients in nanocrystalline thin films: The role of growth parameters and self-organization
Daniel, R., Keckes, J., Matko, I., Burghammer, M. & Mitterer, C., 2013, in: Acta materialia. 61, S. 6255-6266Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Self-organized periodic soft-hard nanolamellae in polycrystalline TiAlN thin films
Keckes, J., Daniel, R., Mitterer, C., Matko, I., Sartory, B., Köpf, A., Weißenbacher, R. & Pitonak, R., 2013, in: Thin solid films. 545, S. 29-32Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Transmission electron microscopy characterization of CrN films on MgO(001)
Harzer, T. P., Daniel, R., Mitterer, C., Dehm, G. & Zhang, Z. L., 2013, in: Thin solid films. 545, S. 154-160 7 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Using pulsed and modulated photothermal radiometry to measure the thermal conductivity of thin films
Kusiak, A., Martan, J., Battaglia, J.-L. & Daniel, R., 2013, in: Thermochimica Acta. 556, S. 1-5Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
X-ray analysis of residual stress gradients in TiN coatings by a Laplace space approach and cross-sectional nanodiffraction: a critical comparison
Steffenelli, M., Todt, J., Riedl, A., Ecker, W., Müller, T., Daniel, R., Burghammer, M. & Keckes, J., 2013, in: Journal of applied crystallography. 46, S. 1-8Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2014
- Veröffentlicht
A combinatorial X-ray sub-micron diffraction study of microstructure, residual stress and phase stability in TiAlN coatings
Riedl, A., Daniel, R., Todt, J., Steffenelli, M., Holec, D., Sartory, B., Krywka, C., Müller, M., Mitterer, C. & Keckes, J., 2014, in: Surface & coatings technology. 257, S. 108-113Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
