Richard Rachbauer
(Ehemalig)
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Publikationen
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Temperature driven evolution of thermal, electrical, and optical properties of Ti-Al-N coatings
Rachbauer, R., Gengler, J. J., Voevodin, A. A., Resch, K. & Mayrhofer, P. H., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Temperature driven evolution of thermal, electrical, and optical properties of Ti-Al-N coatings
Rachbauer, R., Gengler, J. J., Voevodin, A. A., Resch, K. & Mayrhofer, P. H., 2012, in: Acta materialia. 60, S. 2091-2096Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Thermal decomposition of Ti1-xAlxN thin films in the focus of 3D-atom probe, transmission electron microscopy and X-ray diffraction
Rachbauer, R., Massl, S., Stergar, E., Keckes, J. & Mayrhofer, P. H., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Thermal stability and oxidation resistance of Ti-Al-N/Ta-Al-N multilayer coatings
Koller, C., Hollerweger, R., Rachbauer, R., Arndt, M., Polcik, P., Paulitsch, J. & Mayrhofer, P. H., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Three-dimensional atom probe investigations of Ti-Al-N thin films
Rachbauer, R., Stergar, E., Massl, S., Moser, M. & Mayrhofer, P. H., 2009, in: Scripta materialia. 61, S. 725-728Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Towards predictive modeling of near-edge structures in electron energy-loss spectra of AlN-based ternary alloys
Holec, D., Rachbauer, R., Kiener, D., Cherns, P. D., Costa, P. M. F. J., McAleese, C., Mayrhofer, P. H. & Humphreys, C. J., 2011, in: Physical review : B, Condensed matter and materials physics. 83, S. 165122-1-165122-10Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Towards reliable modelling of electron energy loss near edge structure of ternary alloys
Holec, D., Rachbauer, R., Kiener, D., Mayrhofer, P. H. & Humphreys, C. J., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Towards reliable modelling of ELNES of AlxGa1-xN and other AlN based ternary alloys
Holec, D., Rachbauer, R., Kiener, D., Cherns, P. D., Costa, P. M. F. J., Mayrhofer, P. H. & Humphreys, C. J., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
